平面光带检测仪

平面光带检测仪  型号：JC-008

平面光带检测仪 

用途：
机械密封件、光学零件、高级平台、平板、导轨等高精度平面零件的平面检测。
功率：20W 电源：220V/50Hz **用灯源照射
 
规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上属非标立品需订做
产品特点
*是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来
测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定
高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于
计量单位、实验室作为标准平面和样板。

规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上属非标立品需订做
产品特点
*是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来
测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定
高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于
计量单位、实验室作为标准平面和样板。

*是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来
测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定
高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于
计量单位、实验室作为标准平面和样板。