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冲击试样缺口投影仪

简要描述:

BYC-CST-50型冲击试样缺口投影仪 是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》试样缺口的要求而设计

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冲击试样缺口投影仪 型号:BYC-CST-50

冲击试样缺口投影仪

 

1、是根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种**用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的**用光学仪器,BYC-CST-50型是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。
  2、对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45º角且试样缺口要求R0.25±0.25),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口的微小变化(其公差带只有0.25mm)都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格,对缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。
一、技术参数:
1、投影屏直径:180
2、工作台尺寸:方工作台:110×125
        圆工作台:∮90
        工作台玻璃直径:∮70
3、工作台行程: 
纵向:10mm  
横向:10mm  
升降:12mm
工作台转动范围:0~360º
4、仪器放大倍率:50×;物镜放大倍率:2.5×投影物镜放大倍率
         20×;光源(卤钨灯);12V/100W
5、电源:220V/50Hz;重量:约18kg
6、外型尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)


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