四探针电阻率检测仪

简要描述：

四探针电阻率检测仪型号：TRST-2253
运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，

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详细介绍

四探针电阻率检测仪型号：ST-2253

四探针电阻率检测仪

概述

      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
    探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
    测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
    仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
3.1  测量范围
     电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
     直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    测量方位: 轴向、径向均可
3.3.  4-1/2 位数字电压表：
    (1)量程： 20.00mV～2000mV
   (2)误差：±0.1%读数±2 字
3.4 数控恒流源
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
   (2)误差：±0.1%读数±2 字
3.5 四探针探头（选配其一或加配全部）
    (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6. 电源
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W
3.7.外形尺寸：
    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）
   净   重：≤2.5kg

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